Scanning-sondemikroskopi
Scanning-sondemikroskopi (engelsk: Scanning Probe Microscopy, SPM) er en klasse af mikroskopi-metoder, hvor en spids nål - en sonde - bringes meget tæt på en overflade for at måle den. Ved at bevæge sonden henover overfladen kan et billede dannes.
SPM blev opfundet af Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1981 i form af scanning-tunnelmikroskopi, hvor der mellem sonden og overfladen løber en meget svag strøm pga. kvantemekanisk tunnelering.[1]
Kildehenvisninger
- ^ Salapaka, Srinivasa; Salapaka, Murti (2008). "Scanning Probe Microscopy". IEEE Control Systems Magazine. 28 (2): 65-83. ISSN 0272-1708. doi:10.1109/MCS.2007.914688.
| ||||||||||||||||||||
 | Spire Denne artikel om fysik er en spire som bør udbygges. Du er velkommen til at hjælpe Wikipedia ved at udvide den. |
|
Medier brugt på denne side
Nuclear physics stub.svg
Nuclear physics
Nuclear physics
Conductive probe SEM images.png
Scanning Electron Microscope images of increasing magnification of a conductive coated scanning probe
Scanning Electron Microscope images of increasing magnification of a conductive coated scanning probe
AFMsetup.jpg
Forfatter/Opretter: yashvant, Licens: CC BY 2.5
Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Forfatter/Opretter: yashvant, Licens: CC BY 2.5
Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.