AFMsetup
Forfatter/Opretter:
yashvant
Attribution:
Billedet er tagget "Attribution Required", men der blev ikke angivet nogen tilskrivningsoplysninger. Attributionsparameteren blev sandsynligvis udeladt ved brug af MediaWiki-skabelonen til CC-BY-licenserne. Forfattere og ophavsmænd finder et eksempel på korrekt brug af eksempel her. her.
Kredit:
- This illustration was made for the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology
- The image also appears on the Commons/nanotechnology page
Shortlink:
kilde:
størrelse:
721 x 569 Pixel (88071 Bytes)
beskrivelse:
Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Licens:
Kommentar på licensen:
CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
Licensbetingelser:
Creative Commons Attribution 2.5
Yderligere oplysninger om licens til billedet kan findes her. Sidste ændring: Wed, 20 Mar 2024 08:13:56 GMT
